單晶微波積體電路 學生作品集
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2016年12月7日 星期三
晶片 On-Broad 量測之 VNA 校正教學
作者: 陳榮傑
摘要:本文簡介晶片量測 S 參數時,所使用之向量網路分析儀TRL(Thru-Reflect-Line)校正法教學,藉由本文章介紹如何校正網路分析儀給晶片 On-Broad 量測 S 參數初學者學習。
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