WIN 0.15-PHEMT 之PDK 驗證

作者：謝承宏

授課老師：蔡作敏

摘要：本論文將針對foundry 廠“穩懋 (WIN)” 所提供之0.15 微米製程PDK做驗證。主要驗證內容分為三大部份:ㄧ、電路特性。其中包含電晶體之電壓電流關係圖以及最高震盪頻率(Fmax)。二、電磁特性。此部分則包括該系統之特性阻抗(50歐姆)傳輸線以及該製程之最大特性阻抗傳輸線。三、佈局驗證。最後這部份是觀察電晶體、電阻、電容、以及電感等之佈局,觀察並分析其特性。

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